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更新日期:2024-03-21
簡要描述:
advance半導(dǎo)體封裝材料熱導(dǎo)率儀GH-1系列設(shè)計用于通過保護(hù)加熱器限度地減少平面方向的熱損失
advance半導(dǎo)體封裝材料熱導(dǎo)率儀GH-1系列
評估聚合物,玻璃等的熱導(dǎo)率
該設(shè)備是符合美國標(biāo)準(zhǔn)ASTM E1530的熱電表型穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測量設(shè)備。
一種在50至280°C的溫度范圍內(nèi)測量相對較低的導(dǎo)熱材料的設(shè)備。
半導(dǎo)體封裝材料的導(dǎo)熱系數(shù)評估。
評估玻璃基板的熱導(dǎo)率。
聚合物材料導(dǎo)熱系數(shù)的評估。
陶瓷材料導(dǎo)熱系數(shù)的評估。
低熱導(dǎo)率金屬的熱導(dǎo)率評估。
熱電材料導(dǎo)熱系數(shù)的測量。
設(shè)計有防護(hù)加熱器,可將平面方向的熱損失降至z低
易于操作并具有安全功能
全自動測量
通過將測量溫度輸入到個人計算機,可以在50°C至300°C的范圍內(nèi)進(jìn)行自動測量。
精確測量
使用SUS304,Pyrex,Vespel等預(yù)先獲取并注冊校準(zhǔn)數(shù)據(jù),然后根據(jù)這些校準(zhǔn)數(shù)據(jù)測量未知樣品的熱導(dǎo)率。
豐富的監(jiān)視器
顯示可以在測量過程中顯示樣品系統(tǒng)各部分的溫度和熱導(dǎo)率(參考值)。
薄膜測量也是可能的(可選)通過
堆疊方法,可以測量導(dǎo)熱率相對較低的薄板和薄膜樣樣品的導(dǎo)熱率。
advance半導(dǎo)體封裝材料熱導(dǎo)率儀GH-1系列
溫度范圍 | 50-280℃ |
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樣品尺寸 | ?正方形25mm x厚度 1.5-8mm?φ25mmx厚度 1.5-8mm?正方形50mm x厚度 1.5-12mm?φ50mmx厚度1.5-12mm |
測量范圍 | 樣品尺寸?0.1至15 Wm -1 K -1 樣品尺寸?0.1至20 Wm -1 K -1 |
測量氣氛 | 在空中 |