CHINO溫度計在半導體晶圓表面拋光溫度測量上的運用
●適合裝置組裝的緊湊的檢測部
●可追隨溫度變化的高速響應
在半導體宇工哈的電腦技術置中,通過研磨晶片直至達到與基座相同的高度,從而達到規(guī)定的厚度。研究星期一開始調查后,晶片和基座之間會產生溫度差,但如果晶片達到與基座相同的高度,則溫度差消失。通過用放射溫度計測定研磨面的溫度,可以判斷研磨結束。
IR-BZ系列將檢測部與主體分離,檢測部更小,可在高溫環(huán)境下使用。配備數字溫度顯示和參數設定功能,實現穩(wěn)定測量。
即使環(huán)境溫度發(fā)生變化,也可以進行高精度和穩(wěn)定的測量。
兼容要求15ms跟隨性的生產線
范圍寬,從低溫范圍(0至1000℃)
KR2000系列是一款兼容網絡的無紙記錄儀,采用5.6英寸TFT彩色液晶顯示屏,具有出色的可視性,兼具高功能性和可操作性。采集周期約為100ms,精度為±0.1%FS,實現高速、高精度。測量數據可保存在內存和最大8GB的緊湊型閃存卡(CF卡)中。可以使用網絡瀏覽器屏幕從內聯網或互聯網上的多臺計算機進行監(jiān)控,并且可以通過 FTP 傳輸數據文件或通過電子郵件發(fā)送數據文件。
共22種多量程輸入(直流電壓、熱電偶、測溫電阻)
配備趨勢顯示、棒圖顯示、數值顯示等多種顯示功能。
最大8GB的CF卡可用于數據記錄,因此可以長期連續(xù)記錄。
配備算術、比較、邏輯運算等計算功能,還可以對輸入數據進行預定運算并顯示和記錄。
報警輸出和上/下通訊可供選擇。可以使用下層通信記錄來自市售PLC*的數據,也可以從KR2000將數據寫入PLC。(*PLC 型號有限制。)
通過使用可選的自定義圖形功能,用戶在 PC 上創(chuàng)建的圖形屏幕(使用 KR Screen Designer,單獨出售)可以顯示在 KR 上。
測量數據記錄在內存和CF卡中,并且可以在主機上回放。此外,通過使用分析/數據采集應用軟件TRAMS,您可以輕松回放、顯示和編輯記錄儀采集的數據文件。
KR3000系列是一款兼容網絡的無紙記錄儀,采用可視性佳的12.1英寸TFT彩色液晶顯示屏和觸摸屏操作系統(tǒng),功能強大且易于操作。采集周期約為100ms/所有點,精度為±0.1%FS的高速和高精度。測量數據可保存在內存和最大8GB的緊湊型閃存卡(CF卡)中??梢允褂镁W絡瀏覽器屏幕從內聯網或互聯網上的多臺計算機進行監(jiān)控,并且可以通過 FTP 傳輸數據文件或通過電子郵件發(fā)送數據文件。
共22種多量程輸入(直流電壓、熱電偶、測溫電阻)
配備趨勢顯示、棒圖顯示、數值顯示等多種顯示功能。
最大8GB的CF卡可用于數據記錄,因此可以長期連續(xù)記錄。
配備算術、比較、邏輯運算等計算功能,還可以對輸入數據進行預定運算并顯示和記錄。
報警輸出和上/下通訊可供選擇。可以使用下層通信記錄來自市售PLC*的數據,也可以從KR3000將數據寫入PLC。(*PLC 型號有限制。)
測量數據記錄在內存和CF卡中,并且可以在主機上回放。此外,通過使用分析/數據采集應用軟件TRAMS,您可以輕松回放、顯示和編輯記錄儀采集的數據文件。
通過使用可選的自定義圖形功能,用戶在 PC 上創(chuàng)建的圖形屏幕(使用 KR Screen Designer,單獨出售)可以顯示在 KR 上。
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